5.3. Diffraction par rayonnement synchrotron

Dans ce sous-chapitre, nous allons traiter un certain nombre d’aspects techniques utilisés pour l’analyse des contraintes résiduelles par diffraction de rayonnement X synchrotron de haute énergie SXRD (Synchrotron X-ray diffraction). Cet ensemble de techniques constitue une extension des techniques classiques des rayons X avec cependant, l’utilisation d’un flux bien plus puissant et d’un niveau d’énergie plus élevé. Certaines de ces techniques sont aujourd’hui émergentes. Elles reposent sur l’utilisation de nouveaux types de détecteurs pour l’imagerie qui permettent une focalisation très fine et que l’on peut utiliser par SXRD. Elles complètent la gamme des techniques classiques et permettent l’investigation de matériaux pour des échelles de longueurs d’ondes et pour des niveaux de détails encore jamais atteints et pour une détermination complète du tenseur des déformations.
Les pics de diffraction contiennent une grande quantité d’informations provenant du matériau étudié. Les profils des pics de diffraction résultent des évolutions des propriétés telles que la texture, la taille de grains, les microdéformations, les dislocations, la température, etc., ainsi que des contributions instrumentales telles que la bande passante en longueur d’onde, l’énergie du faisceau incident et la taille des fentes utilisées. L’interprétation correcte du profil de pic de Bragg présente un intérêt pour un grand nombre d’aspects en science des matériaux. Elle a été largement traitée et discutée dans la littérature et dans ce livre [1-8]…